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2009
11-17

基尔霍夫定律 NEW

基尔霍夫定律（Kirchhoff Law）基尔霍夫电流定律 （KCL）： 对任一集总参数电路中的任一节点，在任一瞬间，流出该节点的所有电流的代数和恒为零。基尔霍夫电压定律（KVL）： 对任一集总参数电路中的任一回路，在任一瞬间，沿此回路的各段电压的代数和恒为零。... Read More >

2009
11-17

集成电路检测注意事项 NEW

1、检测前要了解集成电路及其相关电路的工作原理 　　检查和修理集成电路前首先要熟悉所用集成电路的功能、内部电路、主要电气参数、各引脚的作用以及引脚的正常电压、波形与外围元件组成电路的工作原理。如果具备以上条件，那么分析和检查会容易许多。2、测试不要造成引脚间短路 　　电压测量或用示波器探头测试波形时，表笔或探头不要由于滑动而造成集成电路引脚间短路，最好在与引脚直接连通的外围印刷电路上进行测量。任何瞬间的短路都容易损坏集成电路，在测试扁平型封装的CMOS集成电路时更要加倍小心。... Read More >

2009
11-17

QFN技术 NEW

QFN封装(Quad Flat No—lead，方形扁平无引脚封装)由于具有良好的电和热性能、体积小、重量轻，其应用正在快速增长。采用微型引线框架的QFN封装称为MLF封装 (Micro Lead Frame一微引线框架)，QFN封装和CSP(Chip Size Package，芯片尺寸封装)有些相似，但元件底部没有焊球。封装底部中央位置有一个大面积裸露焊盘用来导热，围绕大焊盘的封装外围四周有实现电气连接 的导电焊盘，由于QFN封装不像传统的SOIC与TSOP封装那样具有鸥翼... Read More >

2009
11-17

MCM封装与三维封装

一.MCM封装MCM（mutichip moudle）多芯片组件封装。使用多呈连线基板，载以打线键和。MCM封装技术可概括为多层互联基板的制作与芯片链接两大部分。芯片链接可以用打线键和，TAB，C4等技术完成。基板可以是陶瓷，金属等为基材，利用膜技术制作多层互联结构。二.分类按照工艺方法及基板使用的材料分：MCM-C：基板为绝缘陶瓷。导电电路则以厚膜印刷技术制成。然后再烧结。MCM-D：D代表deposition。即以淀积薄膜方法制成多层基板。MCM-L: L代表lamina... Read More >

2009
11-17

WLP技术

一.WLP技术WLP（wafer lever package）：晶圆级封装。以BGA技术为基础，是一种经过改进和提高的CSP。晶圆级封装利用薄膜在分布工艺，是IO可分布在IC芯片的整个表面。封装对象为整个晶圆，真正意义上的批量生产芯片技术。二.WLP的两个基本工艺1薄膜再分布技术：i：在IC芯片上涂覆金属布线见介质材料。ii：淀积技术薄膜，并利用光刻方法制备金属导线和所连接的凸点焊区，这是IC芯片周边的铅焊区就转换成了阵列分布的焊区。iii：在凸点焊区淀积UBM，然后在UBM... Read More >

2009
11-15

FC技术

一.倒装芯片技术（FC）FC(flip chip):倒装芯片技术，将芯片倒扣在封装衬底上，省略键合线。FC最主要的优点就是拥有最高密度的I/O数，这是其他两种芯片互连技术TAB WB无法比拟的，它是将芯片上原本是周边排列的pad（焊盘）进行再布局，最终以阵列的方式引出二.倒装芯片的凸点技术FC的凸点可分为焊料凸点和非焊料凸点两大类。其凸点的结构基本都是由IC,UBM(under bump metal lurgy) ,bump其中UBM是在芯片焊盘与凸点之间的金属过渡层。... Read More >

2009
11-15

CSP技术

一.CSP技术CSP（chip scale packages）：芯片尺寸封装，是指封装外壳不超过裸芯片的1.2倍。它不是新的封装形式。只是对尺寸化要求严格而已。其安装工艺和SMT设备兼容。CSP的实质就是将芯片引出脚进行重加工，其结构如下图所示：其结构主要有四部分组成：IC芯片，互连层，焊球，保护层。二.分类从工艺上看可分为5中类型：1.柔性基板封装2.刚性基板封装3.引线框架式CSP封装4.晶圆级CSP封装5.薄膜型CSP（常应用于闪存）... Read More >

2009
11-14

BGA技术

一.BGA简介：BGA(ball Grid array)球栅阵列式，它是在基板上按阵列方式制出球形触电作为引脚，正面配装IC芯片，是多引脚大规模集成芯片用的一种表面贴装型技术。QFP（quad flat packges）四方扁平封装，其适用于引脚不超过200条的元件，早期的封装形式还有PGA（pin grid array）针栅阵列式BGA封装的优点：i：节约基板空间，缩短互连线。ii：焊点中心距比QFA大，可使用SMT工艺设备。iii：适合MCM封装需要，可实现MCM高密度，... Read More >

2009
11-13

集成电路封装可靠性测试

常见 的测试方法有以下几种一.T/C测试:T/C（Temperature Cycling）温度循环测试，主要的目的是测试半导体封装体热胀冷缩的耐久性，即应力引起的对芯片的破坏，测试环境为气体环境。二.T/S测试：T/S（thermal shock Test）热冲击测试。主要测试封装体抗热冲击的能力，测试环境为高温液体。三.HTS测试：HTS（high temperature storge）高温储藏测试。测试封装体长时间暴露在高温环境下的耐久性。一般把产品放在高温氮气炉中，测试... Read More >

2009
11-13

XHTML基础知识

HTML语言是我们建立网页的工具，从它出现发展到现在，规范不断完善，功能越来越强。但是依然有缺陷和不足，人们仍在不断的改进它，使它更加便于控制和有弹性，以适应网络上日新月异的应用需求。2000年底，国际W3C(World Wide Web Consortium)组织公布发行了XHTML 1.0版本，XHTML和HTML,XML有什么不同，它增加了什么新功能，今天就让我们来初步认识一下XHTML。XHTML 1.0是一种在HTML 4.0基础上优化和改进的的新语言，目的是基于X... Read More >